厚みのある半無限導体板による散乱問題のレイ・トレース法解とその精度について

• 中川 真弓

  福岡工業大学

• 藤井 泰憲

  福岡工業大学

• 内田 一徳

  福岡工業大学

書誌事項

タイトル別名

• On Accuracy of Ray Tracing Method Solution for Scattering Problem by Thick Half-Plane

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. : The Papers of Technical Meeting on Electromagnetic Theory, IEE Japan. EMT, 電磁界理論研究会

  電気学会研究会資料. : The Papers of Technical Meeting on Electromagnetic Theory, IEE Japan. EMT, 電磁界理論研究会 2005 (61), 49-54, 2005-11-17

キーワード

• 多重回折
• ウィーナ・ホッフ法
• レイ・トレース法

詳細情報

• CRID: 1570291225274521984
• NII論文ID: 10017117385
• NII書誌ID: AN00346578
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles