High-resolution transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy study of polycrystalline-Si/ZrO_2/SiO_2/Si metal-oxide-semiconductor structures

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収録刊行物

  • Journal of electron microscopy  

    Journal of electron microscopy 55(1), 1-5, 2006-01-01 

参考文献:  13件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018006114
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • データ提供元
    CJP書誌 
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