What is the next step in spherical aberration corrected electron microscopy?

• TANAKA Nobuo

  名古屋大学エコトピア科学研究所

Bibliographic Information

Other Title

• 収差補正, 次への道を見つけよう

Journal

• 顕微鏡

  顕微鏡 41 (1), 2-, 2006-03-31

Keywords

• 球面収差補正
• TEM
• STEM
• 装置開発
• ナノ材料

Details

• CRID: 1573105975173242624
• NII Article ID: 10018130996
• NII Book ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles