次世代の電子光学系を有する収差補正電子顕微鏡の開発 Aberration corrected microscopy with newly developed platform

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著者

収録刊行物

  • 顕微鏡  

    顕微鏡 41(1), 21-25, 2006-03-31 

    日本顕微鏡学会

参考文献:  8件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018131069
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    7910639
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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