影像歪法による試料中の電場・磁場の観察 Electric/magnetic field observation by means of the shadow image distortion method

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収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 41(1), 54-56, 2006-03-31

    The Japanese Society of Microscopy

参考文献:  7件中 1-7件 を表示

  • <no title>

    KAMINO T.

    Microsc. Microanal. Microstruct. 4, 127-135, 1993

    被引用文献1件

  • <no title>

    SASAKI K.

    Materials Science Forum 475-479, 4029-4034, 2005

    被引用文献1件

  • <no title>

    WANG Z.

    Microscopy and Microanalysis 9(spplement), 772-773, 2003

    被引用文献1件

  • <no title>

    SASAKI K.

    Electron Microscopy 35(Suppl. 1), 190, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANOMURA A.

    Rev. Mod. Phys. Rev. 59, 639-669, 1987

    被引用文献7件

  • <no title>

    CHAPMAN J. N.

    J. Phys. D 17, 623-647, 1984

    被引用文献3件

  • 電子線ホログラフィーによる p-n 接合の観察

    佐々木 勝寛 , 王 洲光 , 平山 司 , 藪内 康文 , 坂 公恭

    電子顕微鏡 = Electron-microscopy 38(3), 216-218, 2003-11-30

    J-STAGE 参考文献15件 被引用文献1件

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018131222
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    7910714
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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