二次イオン質量分析法(SIMS)による表面分析 Surface Analysis by Secondary Ion Mass Spectroscopy (SIMS)

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著者

    • 沼田 俊充 NUMATA Toshimitsu
    • (独)産業技術総合研究所 Advanced Manufacturing Research Institute, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

収録刊行物

  • トライボロジスト = JOURNAL OF JAPANESE SOCIETY OF TRIBOLOGISTS  

    トライボロジスト = JOURNAL OF JAPANESE SOCIETY OF TRIBOLOGISTS 51(4), 294-299, 2006-04-15 

    日本トライボロジー学会

参考文献:  20件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018136591
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10056166
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    09151168
  • NDL 記事登録ID
    7931028
  • NDL 雑誌分類
    ZN11(科学技術--機械工学・工業)
  • NDL 請求記号
    Z16-540
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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