複素インピーダンス解析を利用した境界膜の膜厚と被覆率の同時計測法 A New Technique for the Simultaneous Measurement of Thickness and Coverage of Boundary Films with Complex Impedance Analysis

この論文をさがす

著者

    • 中野 健 NAKANO Ken
    • 横浜国立大学 大学院環境情報研究院 Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University

収録刊行物

  • トライボロジスト = JOURNAL OF JAPANESE SOCIETY OF TRIBOLOGISTS  

    トライボロジスト = JOURNAL OF JAPANESE SOCIETY OF TRIBOLOGISTS 51(4), 328-332, 2006-04-15 

    日本トライボロジー学会

参考文献:  10件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

被引用文献:  2件

被引用文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018136652
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10056166
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    09151168
  • NDL 記事登録ID
    7931048
  • NDL 雑誌分類
    ZN11(科学技術--機械工学・工業)
  • NDL 請求記号
    Z16-540
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
ページトップへ