同位体顕微鏡 : 高感度2次元イオン検出による結像型SIMS Isotope microscope : Imaging SIMS with high sensitive 2D-ion-detection

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著者

収録刊行物

  • 顕微鏡  

    顕微鏡 41(2), 134-137, 2006-07-31 

    社団法人 日本顕微鏡学会(The Japanese Society of Microscopy)

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018183279
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    8058315
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  IR  J-STAGE 
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