The Surface Analysis to Evaluate Its Profile by Electron Beam
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- TAGUCHI Yoshio
- Elionix Inc.
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- OMATA Yukiko
- Elionix Inc.
Bibliographic Information
- Other Title
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- 最近の表面形状測定技術 電子線を用いた表面形状評価技術
- 電子線を用いた表面形状評価技術
- デンシセン オ モチイタ ヒョウメン ケイジョウ ヒョウカ ギジュツ
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Journal
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- Journal of The Surface Finishing Society of Japan
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Journal of The Surface Finishing Society of Japan 57 (8), 564-568, 2006
The Surface Finishing Society of Japan
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679093151232
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- NII Article ID
- 10018208719
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- NII Book ID
- AN1005202X
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- ISSN
- 18843409
- 09151869
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- NDL BIB ID
- 8066385
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- Text Lang
- ja
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- Data Source
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles