High-Contrast Imaging of Nano-Channels Using Reflection Near-Field Scanning Optical Microscope Enhanced by Optical Interference

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著者

    • SAKAI Masaru
    • Near-Field Optics Group, Kanagawa Academy of Science and Technology (KAST)
    • MONONOBE Shuji
    • Near-Field Optics Group, Kanagawa Academy of Science and Technology (KAST)
    • AKIBA Shusaku
    • Materials and Structures Laboratory, Tokyo Institute of Technology
    • HARA Wakana
    • Materials and Structures Laboratory, Tokyo Institute of Technology
    • SAIKI Toshiharu
    • Near-Field Optics Group, Kanagawa Academy of Science and Technology (KAST)

収録刊行物

  • Optical review  

    Optical review 13(4), 266-268, 2006-08-01 

参考文献:  11件

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018209603
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11029291
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    13406000
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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