スピントンネル素子のAl薄膜における熱酸化の研究

• 森住 昌弘

• 椎木 一夫

Bibliographic Information

Other Title

• スピントンネル ソシ ノ Al ハクマク ニ オケル ネツ サンカ ノ ケンキュウ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (142), 41-46, 2006-07

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• AlOx
• XPS
• 絶縁破壊
• Spin tunneling junction
• Thermal oxidation
• Breakdown

Details

• CRID: 1520009408294554880
• NII Article ID: 110004810370
• NII Article ID: 10018215602
• NII Article ID: 10018045387
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• ISSN: 13426893
• NDL BIB ID: 8018031
• NDL BIB ID: 8093484
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8018031
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8018031
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8093484
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8093484
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles