Experimental Four-Resonant-Tunneling-Diode(4RTD) Logic Circuits

• 山田 晃敬

• 菅原 健太郎

• 奥山 大樹

書誌事項

タイトル別名

• Experimental Four Resonant Tunneling Diode 4RTD Logic Circuits
• 4RTD論理ゲートの試作と動作確認
• AWAD2006
• AWAD2006

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (138), 201-204, 2006-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 共鳴トンネル
• InP
• resonant tunneling
• logic gate

詳細情報

• CRID: 1520009409266234624
• NII論文ID: 110004840460
• NII論文ID: 10018216964
• NII論文ID: 110004813224
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8016837
• NDL書誌ID: 8016034
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8016837
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8016034
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles