SMAM-2(ナノテクノロジーのための標準物質と計測技術に関する第2回国際シンポジウム)参加報告  [in Japanese] A Report on the SMAM-2 (Second International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology)  [in Japanese]

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Author(s)

    • 高畑 圭二 TAKAHATA Keiji
    • 産業技術総合研究所計測標準研究部門 National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Journal

  • エアロゾル研究 = Journal of aerosol research  

    エアロゾル研究 = Journal of aerosol research 21(3), 257-258, 2006-09-20 

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    10018250363
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID)
    AN10041511
  • Text Lang
    JPN
  • Article Type
    OTR
  • ISSN
    09122834
  • Data Source
    CJP 
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