分析科学分野における放射光結晶学-微小部分析, 微量分析の極限にむけて Introduction to Synchrotron Radiation X-ray Analysis for Crystallographers

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抄録

This article gives an overview of several basic synchrotron radi-ation (SR) X-ray analytical techniques useful for crystallographers for material characterization. They include X-ray fluorescence analysis, X-ray powder diffraction and in plane diffraction analyses, X-ray absorption fine structure analysis and X-ray photoelectron spectroscopy. Utilization of X-ray microbeam and total reflection optics are two key elements of the techniques. Special attention was paid to show the advantage of the introduction of SR to these techniques and to give a hint of SR experiments for those who have never used SR although they have basic knowledge of the techniques.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 47(5), 305-315, 2005-10-30 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  28件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018280334
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    7717704
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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