ケルビンプローブ原子間力顕微鏡法によるシリコン粒界のポテンシャル障壁観察 Observations of Grain Boundary Potential Barrier in Polycrystalline Silicon by Kelvin Probe Force Microscopy

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著者

    • 連川 貞弘 TSUREKAWA Sadahiro
    • 東北大学大学院工学研究科ナノメカニクス専攻 Department of Nanomechanics, Graduate School of Engineering, Tohoku University
    • 木戸 康太 KIDO Kota
    • 東北大学大学院 Department of Nanomechanics, Graduate School of Engineering, Tohoku University
    • 渡邊 忠雄 WATANABE Tadao
    • 東北大学大学院工学研究科ナノメカニクス専攻 Department of Nanomechanics, Graduate School of Engineering, Tohoku University

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報  

    まてりあ : 日本金属学会会報 45(10), 734-737, 2006-10-20 

    The Japan Institute of Metals and Materials

参考文献:  25件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018310926
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • NDL 記事登録ID
    8550980
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-313
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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