SiGeC HBTの真性及び外部ベースのプロセス設計
書誌事項
- タイトル別名
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- Design of Intrinsic and Extrinsic Base Process of SiGeC HBT
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収録刊行物
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- 電気学会研究会資料. EFM, 電子材料研究会
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電気学会研究会資料. EFM, 電子材料研究会 2006 (15), 7-10, 2006-10-03
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1570009750449596544
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- NII論文ID
- 10018312321
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- NII書誌ID
- AN10442556
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles