キャリア移動度変調による超接合の低オン抵抗化 Reduction of On-Resistance in Superjunction by Using the Carrier Mobility Modulation

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著者

    • 青木 正明 AOKI Masaaki
    • オン・セミコンダクター・テクノロジー 研究開発センター R&D Center, On Semiconductor Technology Japan Ltd.

収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会  

    電気学会研究会資料. EDD, 電子デバイス研究会 2006(67), 25-30, 2006-10-25 

参考文献:  8件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018312746
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1044178X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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