高性能プラズモニック開口プローブを使ったSNOM像シミュレーション Simulation of imaging by SNOM using a high-performance plasmonic aperture probe

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. : The Papers of Technical Meeting on Electromagnetic Theory, IEE Japan. EMT, 電磁界理論研究会  

    電気学会研究会資料. : The Papers of Technical Meeting on Electromagnetic Theory, IEE Japan. EMT, 電磁界理論研究会 2006(86), 137-142, 2006-10-26 

参考文献:  14件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018313762
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00346578
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ