近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価 Quantitative NDE of Surface Cracks Using Closely Coupled Probes for DCPD Technique

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収録刊行物

  • 非破壊検査 = JOURNAL OF THE JAPANESE SOCIETY FOR NON-DESTRUCTIVE INSPECTION

    非破壊検査 = JOURNAL OF THE JAPANESE SOCIETY FOR NON-DESTRUCTIVE INSPECTION 55(11), 567-570, 2006-11-01

    日本非破壊検査協会

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被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018345176
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00208370
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03675866
  • NDL 記事登録ID
    8561784
  • NDL 雑誌分類
    ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
  • NDL 請求記号
    Z14-41
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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