高耐圧GaN-HEMTにおける電流コラプスのフィールドプレート構造依存性 Dependence of the Field-Plate Structure for Current Collapse Phenomena in High-Voltage GaN-HEMTs

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収録刊行物

  • 電気学会研究会資料. EFM, 電子材料研究会

    電気学会研究会資料. EFM, 電子材料研究会 2006(25), 7-10, 2006-11-28

参考文献:  9件中 1-9件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018406148
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10442556
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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