Dependence of the Field-Plate Structure for Current Collapse Phenomena in High-Voltage GaN-HEMTs

• SAITO Wataru

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• KURAGUCHI Masahiko

  Toshiba

• TAKADA Yoshiharu

  Toshiba

• TSUDA Kunio

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• SAITO Yasunobu

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• NODA Takao

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• OMURA Ichiro

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• YAMAGUCHI Masakazu

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Bibliographic Information

Other Title

• 高耐圧GaN-HEMTにおける電流コラプスのフィールドプレート構造依存性

Journal

• 電気学会研究会資料. EFM, 電子材料研究会

  電気学会研究会資料. EFM, 電子材料研究会 2006 (25), 7-10, 2006-11-28

Keywords

• GaN-HEMT
• High-Voltage
• Power Semiconductor Device

Details

• CRID: 1571417125315066240
• NII Article ID: 10018406148
• NII Book ID: AN10442556
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles