マイクロビームX線小角散乱を用いた高分子材料の構造研究 Application of microbeam small-angle X-ray scattering to structure analyses of polymeric materials

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著者

収録刊行物

  • 放射光  

    放射光 20(2), 133-136, 2007-03-31 

    日本放射光学会

参考文献:  9件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018415197
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10075706
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    09149287
  • NDL 記事登録ID
    8777803
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-561
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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