シリコン双晶ナノ粒子の高分解能電子顕微鏡観察 : 回転に伴う像の連続変化 High-resolution Electron Microscopy Observations of a Twinned Si Nanoparticle : Continuous Change of Image with Tilt

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収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 45(12), 840, 2006-12-20

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    KOHNO H.

    Cryst. Res. Technol. 38, 1082, 2003

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018421861
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌 
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