分析電子顕微鏡による酸化セリウムに担持した金微粒子の観察 Analytical TEM Observation of Au Particles on CeO_2

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  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 45(12), 867, 2006-12-20

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    AKITA T.

    J. Mater. Sci. 40, 3101-3106, 2005

    DOI 被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018421933
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌 
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