ReSiAlの構造解析における原子サイト組成分析

• 原田 俊太

  京都大学

• 寺田 英司

  京都大学

• 田中 克志

  京都大学大学院工学研究科

• 岸田 恭輔

  京都大学大学院工学研究科

• 乾 晴行

  京都大学大学院工学研究科

書誌事項

タイトル別名

• Composition Analysis of Atomistic Site Levels in ReSiAl

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 45 (12), 870-870, 2006

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• high angle annular dark field scanning transmission electron microscopy
• electron energy loss spectroscopy
• spherical aberration correction
• thermoelectric material

詳細情報

• CRID: 1390001204078555648
• NII論文ID: 10018421941
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.45.870
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/45/12/45_12_870/_pdf
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles