Split-HOLZ法による電子デバイスの応力解析

• 添田 武志

  株式会社富士通研究所基盤技術研究所

書誌事項

タイトル別名

• Stress Analysis of Electronic Devices by Split-HOLZ Method

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 45 (12), 884-884, 2006

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• convergent beam electron diffractioe
• stress analysis
• electronic device

詳細情報

• CRID: 1390001204078693760
• NII論文ID: 10018421975
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.45.884
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/45/12/45_12_884/_pdf
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles