2段電子線バイプリズム干渉法による干渉縞の方位角コントロール Variable Interference Azimuth Angle in Double-Biprism Electron Interferometry

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収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 45(12), 888, 2006-12-20

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018421995
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌 
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