2段電子線バイプリズム干渉法による干渉縞の方位角コントロール

• 原田 研

  理化学研究所 日立基礎研究所

• 松田 強

  理化学研究所 日立基礎研究所

• 外村 彰

  理化学研究所 日立基礎研究所

• 明石 哲也

  日立基礎研究所 日立ハイテクフィールディング

• 戸川 欣彦

  理化学研究所

書誌事項

タイトル別名

• Variable Interference Azimuth Angle in Double-Biprism Electron Interferometry

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 45 (12), 888-888, 2006

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• electron interferomehy
• electron holography
• double-biprism electron interferomethy
• electron hiprism
• elcctron microscopy

詳細情報

• CRID: 1390001204078697984
• NII論文ID: 10018421995
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.45.888
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/45/12/45_12_888/_pdf
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles