トレンチ横型パワーMOSFETのホットキャリア耐性

• 澤田 睦美

• 松永 慎一郎

• 山路 将晴

Bibliographic Information

Other Title

• トレンチ ヨコガタ パワー MOSFET ノ ホットキャリア タイセイ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (379), 15-20, 2006-11-24

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• RonQg
• パワーIC
• hot-carrier reliability
• Power IC
• Trench

Details

• CRID: 1520572358681754240
• NII Article ID: 110005717120
• NII Article ID: 10018438283
• NII Article ID: 110005717274
• NII Article ID: 110005717266
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 8572167
• NDL BIB ID: 8572034
• NDL BIB ID: 8572119
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8572167
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8572034
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8572119
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles