走査型非線形誘電率顕微鏡によるフラッシュメモリ中の蓄積電荷の可視化 Visualization using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy of Charges Stored in Flash memory

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan  

    表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan 28(2), 78-83, 2007-02-10 

    日本表面科学会

参考文献:  11件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018498360
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    8687395
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
ページトップへ