International Joint Study Programme for Technology Interaction How It Works

• FUMIO Arakawa

  Global Engineering Institute, Inc.

収録刊行物

• 電気学会研究会資料. HEE, 電気技術史研究会

  電気学会研究会資料. HEE, 電気技術史研究会 2007 (1), 1-6, 2007-01-15

キーワード

• IC
• HTI
• HEE
• TT(technology Transfer)
• Maui Meeting
• ICEE(International Conference on Electrical Engineering)
• International Joint Study Programme (IJSP)
• history study
• TI (technology interaction)
• global contribution

詳細情報

• CRID: 1570854175412849408
• NII論文ID: 10018499635
• NII書誌ID: AN10441881
• 本文言語コード: en
• データソース種別:
  • CiNii Articles