3次元型トランジスタFinFETを用いたシステムLSIの設計法 : パターン面積の縮小効果の見積もり Dsign Method of System LSI with Three-Dimensional Transistor (FinFET) : Reduction of Pattern Area

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収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. IE, 画像工学  

    電子情報通信学会技術研究報告. IE, 画像工学 106(319), 25-30, 2006-10-20 

参考文献:  20件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018637753
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013006
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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