マルチターン飛行時間型質量分析計のイオン像のシミュレーション Simulation of Beam Profile of Multi-Turn Time-of-Flight Mass Spectrometers

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抄録

The ion beam profiles of the multi-turn time-of-flight mass spectrometers "MULTUM" and "MULTUM II" were simulated using the ion trajectory simulation program "TRIO 2.0." These ion optical systems satisfy the "perfect focusing" conditions and are suitable for an imaging mass spectrometer in stigmatic mode. From the simulation, it was clear that the higher order aberration of MULTUM II is smaller than that of MULTUM. A smaller initial lateral angular deviation makes aberration after circulation smaller in both the ion optical systems. In the ion optical system MULTUM II, the ion images should be measured at even numbered cycles, because the second-order coefficient (<i>x</i>¦<i>xx</i>) will be cancelled after every two cycles.

収録刊行物

  • 質量分析 = Mass spectroscopy  

    質量分析 = Mass spectroscopy 55(1), 17-24, 2007-02-01 

    The Mass Spectrometry Society of Japan

参考文献:  12件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018702967
  • NII書誌ID(NCID)
    AN0010555X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    13408097
  • NDL 記事登録ID
    8675237
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z17-213
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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