バイオデバイスの飛行時間型二次イオン質量分析イメージング Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry Imaging of Biodevices

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抄録

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) imaging provides ten-nanometer-scale chemical images of biodevices. It is one of the most sensitive surface analysis methods and has recently been applied in life sciences. TOF-SIMS is useful for the evaluation of biodevice surfaces, because it provides ten-nanometer-scale mapping and chemical structures of immobilized proteins on devices. In addition, TOF-SIMS requires no pretreatment of samples, such as labeling with a fluorescent probe or coating with metallic thin films. In this paper, the principles of TOF-SIMS and data analysis methods are introduced, and some examples of biodevice observation with TOF-SIMS are described.

収録刊行物

  • 質量分析 = Mass spectroscopy  

    質量分析 = Mass spectroscopy 55(1), 33-38, 2007-02-01 

    The Mass Spectrometry Society of Japan

参考文献:  26件

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被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018703006
  • NII書誌ID(NCID)
    AN0010555X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13408097
  • NDL 記事登録ID
    8675272
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z17-213
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL  J-STAGE 
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