FDTDシミュレーション技術を用いた材料測定法に関する検討 : ミリ波帯金属表皮抵抗と半導体ウェハを含む誘電体板の測定 A Study on Material Measurement Methods Using FDTD Simulation Techniques : Measurements of Surface Resistance of Metals and Dielectric Plates Including Semiconductor Wafer in Millimeter-wave Range

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収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス  

    電子情報通信学会技術研究報告. ED, 電子デバイス 106(459), 115-120, 2007-01-10 

参考文献:  10件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018727012
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10012954
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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