FDTDシミュレーション技術を用いた材料測定法に関する検討--ミリ波帯金属表皮抵抗と半導体ウェハを含む誘電体板の測定
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- FDTD シミュレーション ギジュツ オ モチイタ ザイリョウ ソクテイホウ ニ カンスル ケントウ ミリ ハタイ キンゾク ヒョウヒ テイコウ ト ハンドウタイ ウェハ オ フクム ユウデンタイバン ノ ソクテイ
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (460), 115-120, 2007-01
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details
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- CRID
- 1520009407312219904
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- NII Article ID
- 110006202172
- 10018727012
- 110006205171
- 40016108243
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles