90nmグローバル配線における誘導性クロストークノイズによる遅延変動の実測 Measurement of Delay Variation Due to Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects

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収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路  

    電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路 106(468), 13-18, 2007-01-11 

参考文献:  12件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018727566
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013276
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌 
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