90nmグローバル配線における誘導性クロストークノイズによる遅延変動の実測

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タイトル別名
  • Measurement of Delay Variation Due to Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects

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  • CRID
    1570572700432733952
  • NII論文ID
    10018727566
  • NII書誌ID
    AN10013276
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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