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著者

    • 細田 直文
    • (株)日立製作所 情報・通信グループ トレーサビリティ・RFID事業部

収録刊行物

  • 実験力学 : journal of JSEM  

    実験力学 : journal of JSEM 6(3), 329-330, 2006-09-25 

参考文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018779892
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11822914
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13464930
  • データ提供元
    CJP書誌 
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