Local lattice parameter determination of a silicon (001) layer grown on a sapphire (1102) substrate using convergent-beam electron diffraction

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収録刊行物

  • Journal of electron microscopy  

    Journal of electron microscopy 55(3), 129-135, 2006-06-01 

参考文献:  35件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018790986
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • データ提供元
    CJP書誌 
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