イオン照射誘起非晶質SiCの化学的短範囲規則性

• 石丸 学

• 弘津 禎彦

書誌事項

タイトル別名

• イオン ショウシャ ユウキ ヒショウシツ SiC ノ カガクテキ タンハンイ キソクセイ
• 特集:ビーム誘起・励起効果
• トクシュウ ビーム ユウキ レイキコウカ

収録刊行物

• 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編

  顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 41 (3), 156-159, 2006

  東京 : 日本顕微鏡学会

キーワード

• 動径分布解析
• 短範囲規則構造
• 体積変化

詳細情報

• CRID: 1520853832276266368
• NII論文ID: 10018791216
• NII書誌ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• NDL書誌ID: 8609434
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8609434
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles