LEEM/PEEMを用いた表面研究の新しい展開

• 越川 孝範

書誌事項

タイトル別名

• LEEM PEEM オ モチイタ ヒョウメン ケンキュウ ノ アタラシイ テンカイ

収録刊行物

• 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編

  顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 41 (3), 189-195, 2006

  東京 : 日本顕微鏡学会

キーワード

• 低エネルギー電子顕微鏡
• 光電子顕微鏡
• 動的観察
• 表面電子顕微鏡

詳細情報

• CRID: 1520290883254313984
• NII論文ID: 10018791391
• NII書誌ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• NDL書誌ID: 8609521
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8609521
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles