完全自動化されたデュアルビームFIB-SEM-EBSPシステムを使ったAuボンディングワイヤーの3次元EBSD分析 Three Dimensional-EBSD analysis of a Au bond wire using a fully automated Dual Beam FIB-SEM and EBSD system

この論文をさがす

収録刊行物

  • 顕微鏡  

    顕微鏡 41(3), 204-207, 2006-11-30 

    日本顕微鏡学会

参考文献:  3件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018791433
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    8609560
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
ページトップへ