最近の研究と技術 収差補正STEMによる材料界面ドーパント原子直接観察

• 柴田 直哉

書誌事項

タイトル別名

• サイキン ノ ケンキュウ ト ギジュツ シュウサ ホセイ STEM ニ ヨル ザイリョウ カイメン ドーパント ゲンシ チョクセツ カンサツ

収録刊行物

• 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編

  顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 41 (3), 208-211, 2006

  東京 : 日本顕微鏡学会

キーワード

• 粒界界面
• セラミックス

詳細情報

• CRID: 1520009409439614464
• NII論文ID: 10018791437
• NII書誌ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• NDL書誌ID: 8609572
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8609572
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles