収差補正STEMによる材料界面ドーパント原子直接観察 Direct observations of dopant atoms at material interfaces by aberration corrected STEM

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  • 顕微鏡

    顕微鏡 41(3), 208-211, 2006-11-30

    日本顕微鏡学会

参考文献:  13件中 1-13件 を表示

  • <no title>

    阿部英司

    日本結晶学会誌 47, 26, 2005

    被引用文献1件

  • <no title>

    田中信夫

    電子顕微鏡 34, 211, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    DUSCHER G.

    Nature Materials 3, 621, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    HAIDER M.

    Nature 392, 768, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    NELLIST P. D.

    Science 305, 1741, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    SHIBATA N.

    Nature 428, 730, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    SHIBATA N.

    Phys. Rev. B 72, 140101 (R), 2005

    被引用文献1件

  • <no title>

    PAINTER G. S.

    Phys. Rev. B 70, 144108, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    SATET R. L.

    Mater. Sci. Eng. A 422, 66, 2006

    被引用文献1件

  • <no title>

    SHIBATA N.

    Appl. Phys. Lett. 89, 051908, 2006

    被引用文献1件

  • <no title>

    PENNYCOOK S. J.

    Advances in Imaging and Electron Physics 123, 173, 2002

    被引用文献4件

  • <no title>

    BUBAN J. P.

    Science 311, 212, 2006

    DOI 被引用文献7件

  • <no title>

    BATSON P. E.

    Nature 418, 617, 2002

    DOI 被引用文献13件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018791437
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    8609572
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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