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- 三宅 正二郎
- 日本工業大学システム工学科
書誌事項
- タイトル別名
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- Nanometer Scale Processing by Tribological Action and its Potential Applications
- トライボロジー サヨウ オ カツヨウシタ ナノメータ スケール ノ カコウ ト ソノ オウヨウ テンカイ
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収録刊行物
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- 真空
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真空 50 (2), 89-95, 2007
一般社団法人 日本真空学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282679041407616
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- NII論文ID
- 10018851135
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- NII書誌ID
- AN00119871
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- ISSN
- 18809413
- 05598516
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- NDL書誌ID
- 8735157
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN