二次イオン質量分析を用いた酸化亜鉛薄膜のキャラクタリゼーション Characterization of Zinc Oxide Thin Films with Secondary Ion Mass-spectrometry

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  • 真空

    真空 50(2), 123-127, 2007-02-20

    The Vacuum Society of Japan

参考文献:  16件中 1-16件 を表示

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  • 酸化物セラミックス中の拡散現象と格子欠陥

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    J-STAGE 参考文献42件 被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018851312
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00119871
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    05598516
  • NDL 記事登録ID
    8735218
  • NDL 雑誌分類
    ZN15(科学技術--機械工学・工業--流体機械)
  • NDL 請求記号
    Z16-474
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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