Wrapper Design for the Reuse of Networks-on-Chip as Test Access Mechanism

収録刊行物

European Test Symposium, 2006  

European Test Symposium, 2006, 2006 

被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    10018853092
  • 資料種別 :
    会議資料
  • 収録DB :
    CJP引用