薄切・試料支持・電子染色におけるトラブルシューティング Troubleshooting in thin sectioning, specimen support, and electron staining

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著者

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 42(1), 7-9, 2007-03-30

    日本顕微鏡学会

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    山口正視

    電顕入門ガイドブック, 2004

    被引用文献1件

  • <no title>

    安達公一

    医学 生物学電子顕微鏡観察法, 1982

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018912830
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    8780801
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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