免疫電顕におけるトラブルシューティング

• 和泉 伸一

Bibliographic Information

Other Title

• メンエキ デンケン ニ オケル トラブルシューティング
• Immuno-electron microscopy problems and solutions
• 特集 電子顕微鏡試料作製におけるトラブルシューティング
• トクシュウ デンシ ケンビキョウ シリョウ サクセイ ニ オケル トラブルシューティング

Journal

• 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編

  顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 42 (1), 16-18, 2007

  東京 : 日本顕微鏡学会

Keywords

• 免疫電顕
• トラブルシューティング
• 反射電子像

Details

• CRID: 1520290882047386112
• NII Article ID: 10018912844
• NII Book ID: AA11917781
• ISSN: 13490958
• NDL BIB ID: 8780833
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8780833
• Web Site: https://search.jamas.or.jp/link/ui/2007236394
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles
  • KAKEN