走査電顕試料作製におけるトラブルシューティング SEM preparation problem : solving and troubleshooting

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著者

収録刊行物

  • 顕微鏡

    顕微鏡 42(1), 19-22, 2007-03-30

    日本顕微鏡学会

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

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    田中敬一編

    医学生物学領域の走査電子顕微鏡技術, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    鈴木昭男

    走査電子顕微鏡, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    近藤俊三

    SCAN TECH 2006, 2006

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10018912866
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11917781
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13490958
  • NDL 記事登録ID
    8780846
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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